|
1. Тема: "Спектроскопия с высоким энергетическим разрешением систем с f-электронами"
Докладчик: К. Квашнина (доктор наук, руководитель группы станции Rossendorf Beamline, European Synchrotron Radiation Facility, Гренобль, Франция; профессор химического факультета МГУ им. Ломоносова, Москва, Россия)
Аннотация:
Рентгеновская спектроскопия поглощения (XAS) широко используется для анализа электронной структуры материалов. Существует несколько способов измерения энергетической зависимости коэффициента поглощения: детектирование интенсивности излучения до и после образца, а также детектирование флуоресцентного излучения (в этом случае используются детекторы с энергетическим разрешением). В стандартных методиках измерения спектров XAS, из-за короткого времени жизни возбужденного состояния возникает значительное уширение спектральных особенностей. Детектирование спектральных особенностей, которые уже, чем естественная ширина спектральных линий возможно с использованием эмиссионных спектрометров.
Доклад содержит краткий обзор возможностей рентгеновских спектральных методик в области энергий от 3 кэВ, которые доступны в ESRF. Фокусировка будет сделан на детектировании флуоресцентного излучения с высоким энергетическим разрешением (HERFD XAS) и резонансном неупругом рассеянии (RIXS) на L3 и M4 краях актинидов и лантанидов. Продемонстрировано, что возможно получение важной информации об атомной и электронной структуре, включая электрон-электронное взаимодействие, гибридизацию молекулярных орбиталей, природу химических связей, заселенность и степень локализации f-электронов. Анализ экспериментальных результатов проведен с использованием расчетов электронных структур, основанных на формализме функционала плотности (DFT) и теории мультиплетов. Также будут рассмотрены возможности и ограничения экспериментальных и теоретических подходов.
2. Обсуждение статей, подготовленных для опубликования.  Список статей
Все семинары |
