на главную    карта сайта Написать письмо

 

 

 

 

КУРЧАТОВСКИЙ  КОМПЛЕКС  СИНХРОТРОННО-НЕЙТРОННЫХ  ИССЛЕДОВАНИЙ

   

 

 

 

 

Тематический семинар Курчатовского комплекса синхротронно-нейтронных исследований НИЦ "Курчатовский институт"
Руководитель семинара А.Е. Благов,
заместители руководителя: С.Н. Якунин, В.Т. Эм

 

27.08.2019

 

Совместный семинар отделов синхротронных и нейтронных исследований

 

Доклад по материалам диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук
1. Тема: "Развитие рентгеноакустических методов исследования дефектной структуры кристаллов"
Докладчик: Я.А. Элиович (Лаборатория рентгеновских исследований/Отдел синхротронно-нейтронных и рентгеновских исследований)

 

Аннотация:
В докладе по материалам диссертации на соискание ученой степени к.ф.-м.н. по специальности 01.04.18 (Кристаллография, физика кристаллов) предложена аппаратно-методическая база для реализации адаптивной ультразвуковой перестройки параметров рентгеновских экспериментов, позволяющая изучать процессы, происходящие в кристаллической структуре в условиях статических и динамических деформаций. Разработанная методика успешно применена на лабораторных и синхротронных источниках, проведены исследования динамики дефектной структуры некоторых кристаллических материалов в режиме реального времени, достигнуто существенно увеличение временного разрешения (вплоть до 5 порядков) по сравнению с используемыми методиками.

 

Доклад по материалам диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук
2. Тема: "Образование приповерхностных структур в кристаллах парателлурита и тетрабората лития за счет миграции носителей заряда во внешнем электрическом поле"
Докладчик: А.Г. Куликов (Отдел синхротронных экспериментальных станций)

 

Аннотация:
В работе исследован эффект приповерхностных структурных изменений в монокристаллах с ионной проводимостью на примере парателлурита (α - TeO2) и тетрабората лития (Li2B4O7), а также описан механизм возникновения данного эффекта, связанный с миграцией носителей заряда при воздействии постоянным внешним электрическим полем на кристалл. Результаты получены с помощью in situ рентгендифракционного метода и дополнены электрофизическими измерениями. Предложен и реализован рентгендифракционный метод определения эффективной толщины формируемого внешним полем приповерхностного слоя с повышенной концентрацией носителей зарядов по измерению КДО от кратных порядков отражения.

 

3. Обсуждение публикуемых статей сотрудников ККСНИ. Список статей

 

 

 

 

 

Все семинары